Leica DM1750M Metallphasemikroskop
Mit Materiallaboren oder Forschungsaufgaben
Das neue Leica DM1750M ist ein Materialmikroskop für schnelle und genaue Analyseergebnisse, auch unter rauen Umgebungsbedingungen.
Mit der Leica DM1750M werden Sie sehen, wie einfach und zuverlässig ein Mikroskop sein kann. Seine robuste Konstruktion enthält ein ausgezeichnetes optisches System und erlaubt die Inspektion sogar größerer Proben im hellen Feld, schräg - oder mit polarisiertem Licht. Die gesamte reflektierte Lichtbeleuchtung erfolgt mit einer LED-Stromversorgung, die die Prüfung mit unterschiedlichen Beleuchtungswinkeln ermöglicht, geeignet für die Erkennung von Mikrokratzen oder für den Erhalt von Höheninformationen.
Verstellbares Licht Änderung der Präzisionsvergrößerung

LED-Beleuchtung in Kombination mit eingebauten Apertur Licht Appendix verstellbares reflektiertes Licht bietet weißes kaltes Licht, 6- oder 7-Bit-Objektiv-Konverter ermöglichen eine schnelle und einfache Änderung der Objektive Prüfproben zu
Durchschnittliche Lebensdauer von mehr als 20 Jahren spart die Kosten für den Austausch von Glühbirnen. Höhe von 80 mm. Garantierte Verwendung von hochpräzisen Bearbeitungsnosepieces
Alle Ziele Parcentration.
Mehr anzeigen Schräglicht Ultraharte keramische Oberflächen

Schrägbeleuchtung Proben mit ergonomischer Positionierung Membran-Tastatur kann bequem sein, unsere Oberfläche der industriellen Phase verwendet neue keramische Materialhärte früher von
Intuitive Bedienung, Strahlweg aller 4 LED-Segmente. Nicht erreicht. Es ist speziell für die Anforderungen der schweren Industrie seit Jahren, für
Sie sparen Zeit und Geld.

	Reflexionswelle 1. Eingebaute einstellbare Blende, alle für eine helle, klare und wartungsfreie Beleuchtung der Probe 2. Ergonomische Positionierungsmembrantastatur kann bequem und intuitiv bedient werden, alle 4 LED-Segmente schräge Beleuchtung 3. Schnelle Kontrolle der LED-Lichtintensität 4. Stromversorgung Ein- / Ausschalter getrennt, um Fehler mit anderen Tasten zu vermeiden 5. reflektiertes Licht Beleuchtung mit zwei Steckplätzen integriert, die die Verwendung der Polarisationsplatte Analyzer erlauben
	Schrägbeleuchtung Für eine schnelle Oberflächenprüfung der Metallprobe wird jedes Leica DM1750 M. Schräglicht integriert mit einer der rechten Beleuchtungstastaturen der OBL-Tasten gedrückt, wird das Schräglicht aktiviert und erreicht den Weg mit der Abweichung des Lichtstrahls auf der Probe - schnell, zuverlässig und mit topografischen Informationen wie der Erkennung von Kratzern oder Partikeln.
	Ziel Ihrer Bedürfnisse Die Ziele der hohen Klasse sind für jedes Budget, mit ausgezeichneter Gleichheit, Kontrast und Farbkorrektur, die Ziele der Forschungsklasse zu erfüllen und sogar von der HI-Programm-Reihe erwartet. Auch erhältlich: Ein Labor für die Sicherheitsprüfung von Materialien in der Serie Ultra-Long-Working-Distance-Ziele.
	Höheneinstellbarer Fokusknopf Der einzigartige, patentierte, höhenverstellbare Fokusknopf und die einfache Stufenwechselsteuerung der Leica DM1750 M sind für den individuellen Anwender maßgeschneidert. Zusammen mit anderen ergonomischen Geräten wie Neigungsröhren, Zwischenmodulen und einer Zielreihe mit Helligkeitssynchronisierung bieten diese Funktionen dem Benutzer ein gutes Gebrauchsgefühl am Ende eines langen Arbeitstages.