Haupt
Plattenmesser
Differenzdruck- und Druckübertragungsserie
Peripheriegeräte
Atomkraftmikroskop
Elektronenmikroskop (SEM/TEM/STEM)
Instrument und Zähler
Ultrahochauflösendes Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop der Serie SU8600
Ultrahochauflösendes Schottfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop SU8700
Erfolgreicher Betrieb!